產(chǎn)品中心

PRODUCTS CENTER

日本NF電子測試儀器

查看更多

產(chǎn)品中心您現(xiàn)在的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 日本NF電子測試儀器 > 頻率特性分析儀 > FRA51615日本NF頻率特性分析儀

FRA51615日本NF頻率特性分析儀

簡要描述：

日本NF頻率特性分析儀介紹：
從電子電路、電子零件/材料到機電一體化/電化學，可覆蓋廣泛領(lǐng)域的頻率特性測量。具備各領(lǐng)域所需的性能/功能，提供再現(xiàn)性高的測量數(shù)據(jù)，推進測量作業(yè)的效率提升。FRA51615采納本公司FRA在用客戶的意見，在各個細節(jié)之處追求使用便利性。

更新時間：2024-07-01

訪問量：1620

日本NF頻率特性分析儀介紹：

FRA51615頻率特性分析儀在被測定物上施加正弦波信號，求出其頻率響應(yīng)特性的裝置，因為測量的動態(tài)量程非常寬闊，所以不但能夠進行高精度的測量，而且具有可以測量超低頻率等特長。

要想高精度地測試頻率特性、請選擇NF的FRA

環(huán)路特性伺服特性傳輸特性阻抗導納 PSRR

PLL響應(yīng)特性振動傳遞特性電化學阻抗（EIS）

從逆變器/無線供電等電力電子工程、到伺服控制、
電子零件/電池的評估、生物技術(shù)研究

根據(jù)各種頻率特性測試用途，大幅提升性能/功能/可操作性！

•	測試頻率范圍
	10 μHz ∼ 15 MHz

•	測試速度
	0.5 ms/point

•	基本準確度
	增益 ±0.01 dB 相位 ±0.06°

•	隔離 / 大輸入電壓
	600 V CAT Ⅱ / 300 V CAT Ⅲ

•	大測試電壓
	600 Vrms

ball

順序測試

ball

標記搜索功能

ball

群延時測試

ball

頻率變化時相位控制

ball

負載校正

ball

端口延長功能

ball

電位梯度消除功能

ball

外部標準時鐘等

?

增益·相位分析儀 FRA51602

轉(zhuǎn)換器·開關(guān)電源的環(huán)路增益測試

•

測量頻率 10μHz∼2MHz

•

大輸入電壓?隔離 600V CATⅡ/300V CATⅢ

實現(xiàn)高精度測試的可靠規(guī)格&功能

ball

測試頻率 10 μHz ∼ 15 MHz

從 10 μHz 的低頻到 15 MHz 實現(xiàn)全覆蓋。分辨率也提高到 10 μHz 。支持電化學阻抗測試所需的超低頻。

ball

測試速度 0.5 ms/point

掃描速度 0.5 ms/point?？蓭椭s短生產(chǎn)線上的節(jié)拍時間。

ball

基本準確度增益 ±0.01 dB, 相位 ±0.06°

通過數(shù)字傅立葉計算方法與自校準功能，隨時進行高精度測試。與原來型號相比，增益 / 相位的準確度均有所提升。

* 準確度根據(jù)測試條件而不同。

ball

動態(tài)量程 140 dB

通過高分辨率 A/D 轉(zhuǎn)換器和對每個測試頻率點分別進行量程優(yōu)化的自動切換量程功能，確保較大的動態(tài)量程。對于測試過程中發(fā)生的變化，也能準確地測試出來。

ball

隔離電壓 600 V CAT Ⅱ ／ 300 V CAT Ⅲ

振蕩器輸出（OSC）與 2 個分析輸入（CH1/ CH2）在機殼與端子間相互被隔離，額定絕緣為 600V CATⅡ 或 300V CATⅢ。
高壓電需求增大的逆變器和 PFC 回路等以電源回路的環(huán)路 / 增益測試為首，其應(yīng)用范圍越來越大。

ball

自動切換量程

追隨輸入信號的電平，設(shè)定量程后再進行測試。如檢測到超出量程的噪聲，則自動設(shè)定大的量程進行重新測試。測試數(shù)據(jù)成為未出現(xiàn)量程飽和的數(shù)據(jù)。為消除隨著量程變化而出現(xiàn)的測試值不連續(xù)，也可選擇固定量程。

ball

自動高密度掃描

支持 20,000 點的高密度測試，僅針對測試數(shù)據(jù)急劇變化的區(qū)間，自動提高頻率密度進行測試。

ball

振幅壓縮功能

為防止被測試系統(tǒng)的飽和或破損，對振蕩器的電平進行控制，以使被測試系統(tǒng)的振幅水平保持穩(wěn)定。

ball

積分功能

消除噪聲影響進行測試的數(shù)據(jù)積分功能。重復(fù)測試期間按循環(huán)數(shù)或時間進行設(shè)定。

ball

自動積分功能

進行反復(fù)積分、直至噪聲引起的測試波動成分達到設(shè)定值以下的功能。

ball

延時功能

為減輕由于頻率改變時的瞬態(tài)響應(yīng)而引起的誤差，將時間延時至測試開始的功能。還追加了僅在掃描或開始當場測試時，將時間延時至測試開始的功能。

ball

微分 / 積分運算功能

在測試數(shù)據(jù)的時間區(qū)域里進行微分／二次微分／積分／二次積分的功能。對于來自加速度傳感器和激光多普勒振動計的信號，在掃描的同時進行運算，變換成位移／速度／加速度并顯示。

ball

接口 GPIB，USB，LAN，RS-232，VGA

標準配備 GPIB, USB, LAN, RS-232 接口。可構(gòu)建自動測試系統(tǒng)。
另外，在背面配備了 VGA 連接器作為外部顯示器。關(guān)于其他輸出連接器等，請參閱右側(cè)的背面照片。

top of this page

測試作業(yè)的效率UP!

ball

順序測試

對于設(shè)定存儲的內(nèi)容，按照編號順序讀出并掃描測試的功能。對于一個掃描，可將頻率范圍多分割成 20 個部分，在各自的頻率范圍內(nèi)分別按不同的振幅、積分設(shè)定等進行測試。濾波器和壓電元件等想要高密度地測試特定的頻率范圍時，多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器和變壓器等具有偏壓依存性的零部件的測試等較為方便。

back

濾波器的通帶測試
僅必要頻率范圍的測試

back

MLCC的電容測試
在相同頻率范圍內(nèi)，改變測試條件進行測試

ball

標記搜索功能

除讓標記移動并讀取數(shù)值外，還可自動搜索符合設(shè)定條件的點。

back

ball

群延時測試

可顯示用于濾波器等電子電路波形再現(xiàn)性評價的群延時（GD： Group Delay，用角頻率對輸入輸出間的相位進行微分）。

back

ball

頻率變化時相位控制

在振蕩器輸出信號的相位為 0°時改變頻率。由此，從頻率掃描開始到結(jié)束期間的直流成分變?yōu)榱?，在電池的阻抗測試中，充放電狀態(tài)不發(fā)生變化。另外，在高通濾波器（HPF）的頻率特性測試中，不會由于直流而產(chǎn)生瞬態(tài)響應(yīng)。

ball

誤差校正

開路校正／短路校正／負載校正，端口延長功能，電位梯度消除功能，補償

•

開路校正／短路校正

開路時通過浮動導納、短路時通過殘余阻抗校正測試誤差。（阻抗測試）

•

負載校正

將已知數(shù)值的樣品作為標準阻抗來校正誤差。（阻抗測試）

•

端口延長功能

在使用較長電纜時校正因傳輸延時引起的誤差。（阻抗測試）

•

電位梯度消除功能

假定測試信號是由正弦波和鋸齒波（電位變動波形）構(gòu)成的，分別測出正弦波與鋸齒波各自的大小與相位。消除由于電池等充放電造成的電位變化的影響。
（阻抗測試）

•

補償

對于連接到外部的傳感器和電纜等測試系統(tǒng)的頻率特性
進行預(yù)先測試，校正測試系統(tǒng)的誤差成分。
（增益 / 相位測試）

* 在各個（）內(nèi)的測試中使用的校正功能。

ball

圖表顯示

?

•	SPLIT 顯示
	可選擇在 1 個畫面上顯示 1 個圖表的“SINGLE”和上下顯示2 個圖表的“SPLIT”。

•	數(shù)據(jù)跡線
	可覆蓋參考數(shù)據(jù)跡線（REF）和測試數(shù)據(jù)跡線（MEAS）。

back